線寬測量

COMEF是一款具備特殊功能的圖像處理軟件，專為高精度測量線寬和線距而設計。通過灰度值算法，它能以亞像素級精度測量硅晶圓上導線或結構的寬度與間距。

它應用了光學成像可逆的原理。因此，人們也可以想象將CCD芯片置于物平面（樣本平面）中。一個以10倍放大率將測試樣本成像到芯片層面的顯微物鏡，原則上也會以1/10的放大率將芯片成像到測試樣本層面。

什么是子像素處理？Subpixeling means, detection of edge position with higher reproductibility than ΔXm.亞像素意味著以比ΔXm更高的重現性檢測邊緣位置。 How does that work?這是怎么運作的？A condition is that the recognition of the edge position does not take place manually any longer via setting measuring points on the PC monitor.條件是，邊緣位置的識別不再通過在電腦顯示器上手動設置測量點來進行。The edge recognition is made on the basis of grey tone distributions by the regarded screen window. Thus this measuring procedure no more is suitable for all kinds by objects.邊緣識別是基于所觀察屏幕窗口的灰度色調分布進行的。因此，這種測量方法不再適用于所有類型的物體。It works however outstanding perfect for all linear expanded objects, thus e.g. for circuit paths on hoppers or structures on wafers and masks in semiconductor technology.然而，它對于所有線性擴展物體都表現出色且適用，例如半導體技術中的電路路徑、料斗上的結構，以及晶圓和掩模上的構造。

由于芯片上的原始像素尺寸為6微米，因此在測試樣本級別上每個像素的尺寸為0.6微米。