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上海繪統光學儀器廠
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XPR-300型透射偏光熔點測定儀是地質、礦產、冶金、石油化工、化學纖維、半導體工業以及藥品檢驗等部門和相關高等院校的高分子...等 專業Z常用的專業實驗儀器。可供廣大用戶作單偏光觀察，正交偏光觀察，錐光觀察以及顯微攝影，來觀察物體在加熱狀態下的形變、色變及物體的三態轉化，該儀器采用微電腦檢測
| 一、儀器的用途： XPR-300型透射偏光熔點測定儀是地質、礦產、冶金、石油化工、化學纖維、半導體工業以及藥品檢驗等部門和相關高等院校的高分子...等 專業zui常用的專業實驗儀器。可供廣大用戶作單偏光觀察，正交偏光觀察，錐光觀察以及顯微攝影，來觀察物體在加熱狀態下的形變、色變及物體的三態轉化，該儀器采用微電腦檢測，有自動P、I、D調節，及模糊手動調節功能，通過LED顯示溫度值及設定溫度值,儀表顯示準確、清晰.穩定，對溫度可設定時間間隔內或隨機打印溫度數據，設有“上、下”限自動報警裝置，并可隨時檢查設定的溫度數據，是新一代熔點測溫，控溫裝置。配置有石膏λ、云母λ/4試片、石英楔子和移動尺等附件，本儀器的具有可擴展性，可以接計算機和數碼相機。對圖片進行保存、編輯和打印。是一組具有較完備功能和良好品質的新型產品。 |
二、技術參數
1.目鏡
| 類 別 | 放大倍數 | 視場（mm） |
| 平場目鏡 | 10X | φ18 |
| 分劃目鏡 | 10X | φ18 |
2.物鏡
| 類 別 | 放大倍數 | 數值孔徑（NA） | 蓋玻片厚度（mm） |
| 無應力平場消色差 物鏡 | 4X | 0.10 | - |
| 10X | 0.25 | - | |
| 40X | 0.65 | 0.17 | |
| 60X | 0.85 | 0.17 |
3.光學放大倍數：40X -- 600X
4.系統放大倍數：40X-2600X
5.旋轉載物臺：可拆卸移動機構 移動范圍：30mm×40mm
6.調焦機構：同軸共軌式粗微動調焦
7.調節范圍 26mm，微動格值 0.002 mm，帶鎖緊和限位裝置
8.透射照明：起偏器可360°旋轉，有0、90、180、270四個讀數光源6V/20W鹵素燈，亮度可調阿貝聚光鏡 N.A=1.25 可上下升降
9.中間接筒：內置檢偏器，可自由切換正常觀察與偏光觀察，90°旋轉，帶刻度，游標格值 12′補償器：石膏λ片，云母λ/4片，石英契子
10.防霉功能：*的防霉系統
| 三、系統簡介 偏光熔點測定儀系統是將精密的光學顯微鏡技術、*的光電轉換技術、*的計算機圖像處理技術*地結合在一起而開發研制成功的一項高科技產品。可以在顯示屏上很方便地觀察實時動態圖像，并能將所需要的圖片進行編輯、保存和打印。 |
| 四、熱臺： 1.顯微精密控溫儀 |
2.顯微加熱平臺
可以隨載物臺移動、工作區加熱面積大、透光區域可調、工作區溫度梯度低于± 0.1
起始溫度室溫
工作區加熱使用面積至少1X1cm
工作區溫度梯度不超過 ± 0.1oC
透光區域 2mm以上，可調
顯示溫度與實際溫度誤差不超過 ± 0.2
熱臺可以隨載物臺移動
熔點測定 溫度超過100度時，25X的物鏡工作距離太近，容易損壞鏡頭，請選用長工作距離的 20X、40X 物鏡
五、系統組成
電腦型偏光熱臺（XPR-300C）：1、偏光顯微鏡 2、熱臺 3.攝像器（CCD） 4.A/D（圖像采集） 5、熱臺 6、計算機
數碼型偏光熱臺（XPR-300D）：1、偏光顯微鏡 2、熱臺 3、數碼相機系統 4.熱臺
六、選購件
1、高像素成像系統 2.偏光顯微鏡分析軟件
：
工業顯微鏡
顯微鏡
生物顯微鏡
金相顯微鏡
偏光顯微鏡
熒光顯微鏡
倒置顯微鏡
體視顯微鏡
立體顯微鏡
體視顯微鏡
學生顯微鏡
/ 光學顯微鏡
顯微熔點儀
顯微鏡熱臺
測量軟件
材料顯微鏡
礦相顯微鏡
視頻顯微鏡
暗場顯微鏡
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