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上海如海光電科技有限公司
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XV400 紫外光譜儀
XV400是一款光譜范圍為180nm-430nm的光纖光譜儀。檢測器采用濱松線陣背照式CCD, 16-bit A/D采樣和75%的量子效率為光譜儀提供高信噪比和大的動態范圍。可以廣泛應用在理化分析、生物樣品、半導體材料檢測,光學檢測和材料檢測等領域。 XV400在0-40度,光譜波長偏移< 0.1nm,具備良好熱穩定性,能夠應用于定性、定量檢測場景。
◆ 響應強度大:在檢測物質時光譜響應強度大;
◆ 分辨率高:分辨率<1.0nm@600um 光纖;
◆ 良好的熱穩定性:光譜波長偏移< 0.1nm@ 0-40℃, 靈敏度偏差<2%。
產品參數 | |
| 項目 | 值 |
| 尺寸 | 95×71×41mm |
| 重量: | ~350g |
| 探測器 | 濱松線陣背照式CCD |
| 波動范圍 | 180-430nm |
| 像素 | 2048 *64 有效像元 |
| 光譜分辨率 | <1 nm |
| 信噪比 | 450:1 |
| A/D 采樣 | 16bit |
| 暗噪聲 | 55 RMS |
| 動態范圍 | 1200:1 |
| 積分時間 | 4ms-40 second |
| 連接器 | USB |
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